| 型 式 | SmartLab |
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| メーカー | �螢螢�ク |
| 仕 様 | 定格出力:3kW
半導体検出器:D/teX Ultra250 |
<機器の概要>本装置は、試料にX線を照射して得られる回折線から、X線が原子の周りにある電子によって散乱、干渉した結果起こる回折を解析することで、試料の結晶構造を評価する装置です。 無機物質だけでなく有機物質についても適用でき、各分野、特に無機材料や地質鉱物関係の研究にとって非常に有効な分析装置です。
<主な使用事例・特徴>
X線回折による定性分析によって元素分析だけでは評価できない化合物の定性・定量分析ができるため、粘土鉱物などの同定や定量分析に用いられます。 ![]() |
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| 設置年月 | 2023/12 |
| 担 当 者 | 化学・繊維部 笹原、呉藤 |
| 使 用 料 | 5,000円/1時間 |
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