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磁気ヒステリシス測定器

型　　式 B-Hアナライザ
メーカー 岩通�蝓�SY-8218
仕　　様 測定周波数範囲　：10Hz〜10MHz
測定温度範囲　　：-30℃〜150℃
一次巻線最大電流：１A
試料数（最大）　：20個
測定項目　　　　：最大磁束密度(Bm),残留磁束密度(Br),保持力(Hc),コアロス(Pc)､
　　　　　　　　　複素透磁率(μ’,μ”),損失係数(tanδ)､インピーダンス(Z)、
　　　　　　　　　インダクタンス(L)、レジスタンスR、品質係数(Q)、
　　　　　　　　　位相角(θ)、角形比(Br/Bm)
＜機器の概要＞
　磁性材料の磁気履歴(磁気ヒステリシス)を、印加する外部磁界の周波数と温度、および印加磁界強度を変化させながら測定できます。
　一般に磁性体の磁気特性は、周波数、温度、磁界強度が相互に関係して変化します。また、強い外部磁界中では磁化強度が飽和し、飽和した後は外部磁化をそれ以上強くしても、磁化強度は一定で、それ以上には増加しないことが知られています。
　本測定器は、磁気ヒステリシス曲線を解析することで、これら磁性体の諸特性を導出できる、軟磁性体を対象にした基本測定器です。
＜主な使用事例・特徴＞
　軟磁性体を主な対象試料としており、電子部品として使われる磁性材料を想定しています。
　特に、雑音対策に使われる磁性材料の温度依存性を測定して、雑音対策部品の耐環境性・信頼性を向上させることを目的にしています。
　右図は、ノイズ抑制シートの複素比透磁率が、温度と周波数に依存して変化する様子を測定した例です。
設置年月 2014/11
担 当 者 機械・金属部　佐々木、橋本　　　
使 用 料 3,080円／1時間