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ナノコンポジット構造解析装置(小角広角Ｘ線回折装置)

型　　式 SWXD-FK
メーカー �螢螢�ク
仕　　様 ・分解能は800Å以上(2θ：0.11°以下)、小角・広角領域が測定可能。
・多層膜ミラーで小角散乱測定に適した単一波長(CuKα)、かつ高強度の細束平行Ｘ線に変換して照射。
・イメージングプレート(IP)によって2次元での測定が可能。
・試料を360°回転し、フィルムや繊維の結晶配向の測定・解析が可能。
＜機器の概要＞
　高分子材料にX線を照射すると、X線は結晶粒子によってある散乱角度(2θ)の方向に散乱します。これによって、プラスチックや繊維などの高分子系材料を構成する粒子や微結晶のサイズ・形態、粒子の分布状態や相分離状態、粒子表面の構造、粒子間の配列(周期構造や分子間構造)などの情報が得られます。
＜主な使用事例・特徴＞
設置年月 2003/2
担 当 者 化学・繊維部　前川明　　新産業創出研究部　雲竜
使 用 料 4,440円／１時間